影响因子 > SCI > 纳米科学和纳米技术
期刊简称:MICROELECTRON RELIAB
期刊全称:MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN:0026-2714
Pindex:0.312 (一般偏容易)
影响因子:1.214 影响因子官网数据
学科分类:SCI-纳米科学和纳米技术(NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY)
SCI-应用物理学(PHYSICS, APPLIED)
SCI-电机及电子(ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC)
出版地址:PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD, THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB
Papertrans:派博传思官网数据
出版商:PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
出版语言:English (英语) ;
索引数据库:Current Contents-Engineering, Computing & Technology ;
Current Contents Collections-Electronics & Telecommunications Collection;
SCI (Science Citation Index) ;
SCIE (Science Citation Index Expanded)
Pindex期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY派博系数(Pindex)
Pindex
学科排名		期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY历年Pindex在学科纳米科学和纳米技术中的排名图
历年派博系数(Pindex)及其专业排名
2014年: Pindex: 0.312; 学科排名：69/总数79
2013年: Pindex: 0.341; 学科排名：67/总数79
2012年: Pindex: 0.369; 学科排名：62/总数79
2011年: Pindex: 0.313; 学科排名：68/总数79
2010年: Pindex: 0.352; 学科排名：59/总数79
2009年: Pindex: 0.466; 学科排名：53/总数79
2008年: Pindex: 0.505; 学科排名：45/总数79
2007年: Pindex: 0.33; 学科排名：60/总数79
2006年: Pindex: 0.259; 学科排名：68/总数79
2005年: Pindex: 0.209; 学科排名：68/总数79
2004年: Pindex: 0.21; 学科排名：68/总数79
2003年: Pindex: 0.216; 学科排名：68/总数79
2002年: Pindex: 0.21; 学科排名：68/总数79
2001年: Pindex: 0.215; 学科排名：68/总数79
历年影响因子及专业排名
2014年: 影响因子:1.214; 学科排名:56/总数:73
2013年: 影响因子:1.137; 学科排名:51/总数:69
2012年: 影响因子:1.167; 学科排名:47/总数:66
2011年: 影响因子:1.101; 学科排名:49/总数:64
2010年: 影响因子:1.117; 学科排名:43/总数:59
2009年: 影响因子:1.29; 学科排名:32/总数:52
2008年: 影响因子:1.011; 学科排名:27/总数:47
2007年: 影响因子:0.815; 学科排名:24/总数:32
2006年: 影响因子:0.724; 学科排名:22/总数:27
2005年: 影响因子:0.607;
2004年: 影响因子:0.647;
2003年: 影响因子:0.593;
2002年: 影响因子:0.548;
2001年: 影响因子:0.362;
2000年: 影响因子:0.406;

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