影响因子 > SCI > 应用物理学
期刊简称:MICROELECTRON RELIAB
期刊全称:MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN:0026-2714
Pindex:0.312 (一般偏容易)
影响因子:1.214 影响因子官网数据
学科分类:SCI-纳米科学和纳米技术(NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY)
SCI-应用物理学(PHYSICS, APPLIED)
SCI-电机及电子(ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC)
出版地址:PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD, THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB
Papertrans:派博传思官网数据
出版商:PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
出版语言:English (英语) ;
索引数据库:Current Contents-Engineering, Computing & Technology ;
Current Contents Collections-Electronics & Telecommunications Collection;
SCI (Science Citation Index) ;
SCIE (Science Citation Index Expanded)
Pindex期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY派博系数(Pindex)
Pindex
学科排名		期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY历年Pindex在学科应用物理学中的排名图
历年派博系数(Pindex)及其专业排名
2014年: Pindex: 0.312; 学科排名：122/总数156
2013年: Pindex: 0.341; 学科排名：108/总数156
2012年: Pindex: 0.369; 学科排名：108/总数156
2011年: Pindex: 0.313; 学科排名：119/总数156
2010年: Pindex: 0.352; 学科排名：107/总数156
2009年: Pindex: 0.466; 学科排名：90/总数156
2008年: Pindex: 0.505; 学科排名：82/总数156
2007年: Pindex: 0.33; 学科排名：106/总数156
2006年: Pindex: 0.259; 学科排名：122/总数156
2005年: Pindex: 0.209; 学科排名：134/总数156
2004年: Pindex: 0.21; 学科排名：134/总数156
2003年: Pindex: 0.216; 学科排名：132/总数156
2002年: Pindex: 0.21; 学科排名：134/总数156
2001年: Pindex: 0.215; 学科排名：131/总数156
历年影响因子及专业排名
2014年: 影响因子:1.214; 学科排名:85/总数:136
2013年: 影响因子:1.137; 学科排名:77/总数:127
2012年: 影响因子:1.167; 学科排名:71/总数:125
2011年: 影响因子:1.101; 学科排名:71/总数:118
2010年: 影响因子:1.117; 学科排名:58/总数:108
2009年: 影响因子:1.29; 学科排名:50/总数:95
2008年: 影响因子:1.011; 学科排名:55/总数:94
2007年: 影响因子:0.815; 学科排名:56/总数:84
2006年: 影响因子:0.724; 学科排名:59/总数:83
2005年: 影响因子:0.607; 学科排名:61/总数:79
2004年: 影响因子:0.647; 学科排名:55/总数:76
2003年: 影响因子:0.593;
2002年: 影响因子:0.548;
2001年: 影响因子:0.362;
2000年: 影响因子:0.394;

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