期刊全称: | Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3 |
影响因子2022: | 2.382 (2023年7月5日更新) |
Pindex: | 0.004 (易) (2023年7月5日更新) |
出版商: | SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS |
发行地址: | 1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, USA, WA, 98225 |
索引数据库: | SCIE (Science Citation Index Expanded); Current Contents Electronics & Telecommunications Collection; Current Contents Engineering, Computing & Technology; Current Contents Physical, Chemical & Earth Sciences; Essential Science Indicators
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派博系数 | SCIE期刊Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3历年pindex 派博传思
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派博系数 专业排名 | Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3 Pindex专业排名@SCIE光学 派博传思
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拒稿论文占比 | SCIE期刊Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3拒稿论文占比
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拒稿论文占比 专业排名 | Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3拒稿论文占比排名@SCIE光学
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审稿周期 | SCIE期刊Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3历年审稿周期 派博传思
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审稿周期 专业排名 | Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3审稿周期排名@SCIE光学 派博传思
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体裁与题裁 多样性 | SCIE期刊Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3体裁与题裁多样性
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体裁与题裁 多样性排名 | Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3体裁与题裁多样性排名@SCIE光学
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浏览与下载 频次 | SCIE期刊Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3浏览下载频次 派博传思
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华人署名文章 占比 | SCIE期刊Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3华人署名文章占比 派博传思
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图表质量要求 | SCIE期刊Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3图表质量要求 派博传思
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